Ж Ф 50 Физические основы полупроводниковой тензометрии : межвуз. сб. науч. тр. / Новосибирский электротехнический институт ; ред. В. С. Шадрин. - Новосибирск : НЭТИ, 1981. - 226 с. : ил. - Библиогр. в конце ст. - Б. ц.
Держатели документа: ИСЭМ Доп.точки доступа: Шадрин, В.С. \ред.\; Новосибирский электротехнический институт Все экземпляры списаны |
Ж Ф 50 Физические основы полупроводниковой тензометрии : межвуз. сб. науч. тр. / Новосибирский электротехнический институт ; ред. В. С. Шадрин. - Новосибирск : НЭТИ, 1982. - 223 с. : ил. - Библиогр. в конце ст. - Б. ц.
Держатели документа: ИСЭМ Доп.точки доступа: Шадрин, В.С. \ред.\; Новосибирский электротехнический институт Имеются экземпляры в отделах: ХР Инв.32256 (свободен) |
З 81 О-76 Острейковский, Владислав Алексеевич. Теория техногенного риска: математические методы и модели / В. А. Острейковский ; Сургутский государственный университет. - Сургут : Изд. центр СурГУ, 2013. - 319 с. : рис., табл. - Библиогр.: с. 305 - 319. - 90.00 р.
Держатели документа: ИСЭМ Доп.точки доступа: Сургутский государственный университет Имеются экземпляры в отделах: ХР Инв.45785 (свободен) |